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[资讯]IEC 62321-2013介绍
双击自动滚屏 发布者:管理员 发布时间:2014-5-16 8:38:11 阅读:3389
 

IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通过最终国际标准版草案(FDIS) 阶段,正式公布。有关电子产品中特定有害物质测定的标准- IEC 62321,概述了电子产品的测试方法,以确定产品中的有害化学物质浓度低于欧盟有害物质限制指令(RoHS)法律中制定的有害化学物质浓度。这些标准将部分取代IEC 62321:2008,后续将发布的其他IEC 62321系列标准会逐步取代IEC 62321:2008中的相应条款。替代的新标准未发布前,2008版中的相关独立条款仍然有效。

IEC 标准

IEC standard

范围

Scope

62321-1

简介和概述

Introduction and overview

62321-2

样品的拆卸、拆解和机械拆分

Disassembly, disjointment and mechanical sample preparation

62321-3-1

使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选

Screening –  Lead, mercury, cadmium, total chromium and total bromine by X-ray fluorescence spectrometry

62321-3-2

使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选

Screening – Total bromine in polymers and electronics by Combustion–Ion Chromatography

62321-4

使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞

Mercury in polymers, metals and electronics by CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES and ICP-MS

62321-5

使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS确定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬,以及金属中的镉和铅

Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS

    2013版的最主要变化在于将文件拆分成一系列标准,以利标准维护,同时导入新的测试方法或仪器,例如燃烧- 离子层析仪(C-IC) 和冷蒸汽原子荧光光谱仪(CV-AFS)。燃烧- 离子层析仪(C-IC)用来测试总溴,冷蒸汽原子荧光光谱仪(CV-AFS)用来测试汞含量。

       在完成上述系列标准之后,目前还有另外三份标准正处于不同草案编制阶段: PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六价铬(IEC 62321-7-1和-2)的测试方法。


这些标准预计公布日期如下:
These standards are expected to announce as following dates:
   2014年7月- IEC 62321-6 使用GC-MS、IAMS和HPLC-UV测定聚合物和电子材料中的多溴联苯和多溴二苯醚;
   2015年3月- IEC 62321-7-1 通过比色法测定金属无色和有色的防腐镀层中六价铬的存在;
   2015年3月- IEC 62321-7-2通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬;

   2015年6月- IEC 62321-8 通过质谱测定高分子材料中的特定邻苯二甲酸盐。

 

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